電感磁性元件分析儀詳細介紹：
1J3255BL 頻率范圍 20Hz - 200kHz
1J3255B 頻率范圍 20Hz - 500kHz 1J3255BQ 頻率范圍 20Hz - 1MHz
0.1%基本精度（英國標準） DC Bias(直流偏壓)*高可到125A(Option)
四線式測試，可**測量極低的Rdc、Rs、L和精準Q
可內(nèi)建1Amp或2Amp DC Bias 多頻率自動測試模式 多點DC Bias掃頻功能 涵蓋各式測量參數(shù)：Z(阻抗), L(電感), C(電容), Rac(交流電阻), Phase(相位), Q(品質因素), D(損耗因素), Rdc(直流電阻) 人性化直覺式操作介面,簡單易懂 測試結果列印 可透過IEEE488連線控制
測試夾具選擇
1J1020
1J1022
1J1011
介電常數(shù)測試治具
（40MHz）
液體介電常數(shù)測試治具
（30MHz）
二線制DIP測試治具
（120MHz）
1J1012
1J1024
1J1011W
二線制SMD測試治具（彈片型）
二線制SMD測試治具（探針型）
四線制DIP 測試治具
(120MHz)
1J1014
1J1015
1J10154
四線制SMD測試治具
二線制DIP高電流測試治具
（125A）
（3MHz）
四線制DIP高電流測試治具
1J1016
1J10164
1J1023
二線制SMD高電流測試治具
四線制轉二線制高頻轉接頭
1J1025
1J1032
1J10324
探針式測量治具
二線制SMD底部電極測試夾具
四線制SMD底部電極測試夾具
1J1026
1J1027
1J1028
（20A）
（40A）
（80A）
1J10264
1J10284
1J1036
（60A）
（250A）
1J10362
1J1100
1J1031
電容充放電保護單元
高頻80A SMD 二線式底部接觸式轉接座
1J1037
1J1001
1J1002
偏置電流夾具適配器
四轉一測試夾具
四轉二測試夾具
1EV1006
1EV1505
1EV1905A
四線式DIP測試治具
(1MHz)
四線式測試夾具
(3MHz)
兩線式探針型高頻測試線
(50MHz)
1EV1905X
1EVA40100
1EVA40120
兩線式探針型高頻測試線SMD
精密型測試夾具
SMD鑷子式高精密測試夾具
1EVA40125
1EVA40150
1EVA40180
鑷子式高精密測試夾具
（尖型）
（大型）