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• 并行多路電阻測(cè)試儀
• 安柏并行多路電阻測(cè)試儀AT51X2是全新設(shè)計(jì)的高精度寬量程、并行測(cè)量的多路電阻測(cè)試儀，可以對(duì)8路電阻進(jìn)行同時(shí)測(cè)試。 采用高性能ARM微處理器控制。真彩3.5吋液晶可同時(shí)顯示2路電阻值，并且每個(gè)通道可以單獨(dú)設(shè)置比較器。

• 電池內(nèi)阻測(cè)試儀
• CHT 3563系列和普電池內(nèi)阻測(cè)試儀是一種高精度寬量程、采用高性能微處理器控制的電池內(nèi)阻測(cè)試儀。 內(nèi)阻量程范圍為3mΩ～3kΩ，下限分別率0.1μΩ，至多顯示32000數(shù)。電壓 量程范圍為6V～60V，下限分別率10μV，至多顯示600000數(shù)。

• 電池內(nèi)阻測(cè)試儀
• CHT 3563系列和普電池內(nèi)阻測(cè)試儀是一種高精度寬量程、采用高性能微處理器控制的電池內(nèi)阻測(cè)試儀。 內(nèi)阻量程范圍為3mΩ～3kΩ，下限分別率0.1μΩ，至多顯示32000數(shù)。電壓 量程范圍為6V～60V，下限分別率10μV，至多顯示600000數(shù)。

• 電池內(nèi)阻測(cè)試儀
• CHT 3563系列和普電池內(nèi)阻測(cè)試儀是一種高精度寬量程、采用高性能微處理器控制的電池內(nèi)阻測(cè)試儀。 內(nèi)阻量程范圍為3mΩ～3kΩ，下限分別率0.1μΩ，上限顯示32000數(shù)。電壓 量程范圍為6V～60V，下限分別率10μV，上限顯示600000數(shù)。

• 電池內(nèi)阻測(cè)試儀
• CHT 3563系列和普電池內(nèi)阻測(cè)試儀是一種高精度寬量程、采用高性能微處理器控制的電池內(nèi)阻測(cè)試儀。 內(nèi)阻量程范圍為3mΩ～3kΩ，分別率下限0.1μΩ，至多顯示32000數(shù)。電壓 量程范圍為6V～60V，分別率下限10μV，至多顯示600000數(shù)。

• 和普低電阻測(cè)試儀
• CHT3545和普低電阻測(cè)試儀基本精度 0.01%，可測(cè)范圍 10mΩ ~1200MΩ電阻。具有高速的測(cè)試線異常檢測(cè)功能和極短的測(cè)量周期， 上限分選速度可達(dá) 450 次/秒，能確保每次做出高速可靠的分選。

• 和普微歐計(jì)
• CHT3544/CHT3548和普微歐計(jì)針對(duì)不同應(yīng)用場(chǎng)合分別設(shè)計(jì)臺(tái)式和手持式兩種款式。0.1μΩ~3.3MΩ的測(cè)試范圍，0.02%的基本精度可以滿足大多數(shù)的電阻測(cè)試應(yīng)用場(chǎng)合。抗干擾的電路設(shè)計(jì)使得該儀器能夠在各種復(fù)雜的電磁環(huán)境下完成準(zhǔn)確測(cè)試，CHT3544標(biāo)配RS232/RS485/LAN通訊接口和I/...

• 和普電池內(nèi)阻測(cè)試儀
• HP3561和普電池內(nèi)阻測(cè)試儀是一種高精度寬量程、采用高性能微處理器控制的電池內(nèi)阻測(cè)試儀。 內(nèi)阻量程范圍為3mΩ～3kΩ，下限分別率0.1μΩ，上限顯示32000數(shù)。電壓 量程范圍為6V～60V，下限分別率10μV，上限顯示600000數(shù)。

• 美瑞克直流電阻測(cè)試儀
• RK2517 測(cè)試電阻范圍：1uΩ-200MΩ 測(cè)試精度：0.05%+2個(gè)字(慢速)0.05%+ 5個(gè)字(中速) 0.5%+5個(gè)字(快速)

• 美瑞克精密電阻測(cè)試儀
• RK2514N 測(cè)量范圍：0.1μΩ～110MΩ 電阻量程：基本精度0.01% RK2514AN 測(cè)量范圍：1μΩ～20MΩ 電阻量程：基本精度0.01% RK2515N

• 美瑞克直流低電阻測(cè)試儀
• RK2511N/RK2511N+ 測(cè)試電阻：10μΩ～20kΩ 測(cè)試精度：0.1%（*小分辨率10μΩ） 測(cè)試電流：100mA、10mA、1mA、100μA RK2512N/RK2512N+

• 美瑞克直流電阻測(cè)試儀
• RK2511AL 測(cè)試電阻范圍：0.01mΩ - 200.0KΩ 測(cè)試精度：50mΩ 量程 0.1%±5個(gè)字 500mΩ 量程0.1%±3個(gè)字 5Ω、50 Ω 、500 Ω 、5kΩ 量程0.1%±2個(gè)字、50kΩ

• 高精度電池內(nèi)阻測(cè)試儀
• CHT3563系列是一種高精度電池內(nèi)阻測(cè)試儀。無論是趨向大型化低阻化的鋰電池，還是高電壓應(yīng)用增長(zhǎng)中的電池組，面對(duì)不斷發(fā)展的電池生產(chǎn)行業(yè)，該儀器能同時(shí)高速檢查內(nèi)部電阻(IR)和電池電壓(OCV)。該產(chǎn)品分辨率高、穩(wěn)定性好、測(cè)試周期短、外形精致、功能強(qiáng)大、接口豐富、適用...

• 高精度電池內(nèi)阻測(cè)試儀
• CHT3563系列是一種高精度電池內(nèi)阻測(cè)試儀。無論是趨向大型化低阻化的鋰電池，還是高電壓應(yīng)用增長(zhǎng)中的電池組，面對(duì)不斷發(fā)展的電池生產(chǎn)行業(yè)，該儀器能同時(shí)高速檢查內(nèi)部電阻(IR)和電池電壓(OCV)。該產(chǎn)品分辨率高、穩(wěn)定性好、測(cè)試周期短、外形精致、功能強(qiáng)大、接口豐富、適用...

• 低電阻測(cè)試儀
• CHT3545和普低電阻測(cè)試儀基本精度 0.01%，可測(cè)范圍 10mΩ ~1200MΩ電阻。具有高速的測(cè)試線異常檢測(cè)功能和極短的測(cè)量周期， 上限分選速度可達(dá) 450 次/秒，能確保每次做出高速可靠的分選。

• GOM-805直流微歐姆計(jì)
• 50000 位 TFT 320*240 彩色 LCD 快速測(cè)量： 60 次/s 高精度 0.05% 四線制測(cè)量 溫度補(bǔ)償（TC）功能

• GOM-804直流微歐姆計(jì)
• 50000 位 TFT 320*240 彩色 LCD 快速測(cè)量： 60 次/s 高精度 0.05% 四線制測(cè)量 溫度補(bǔ)償（TC）功能

• AT517直流電阻測(cè)試儀
• AT517是全新設(shè)計(jì)的高精度、高穩(wěn)定性的直流電阻測(cè)試儀；采用高性能ARM微處理器控制。 TFT-LCD真彩顯示，熒屏尺寸3.5英。 中英文大字體顯示, 操作更方便。

• AT516L直流電阻測(cè)試儀
• AT516L直流電阻測(cè)試儀，采用高性能 ARM 微處理器控制和高密度SMD貼裝工藝，具有 0.1%的準(zhǔn)確度和 1μΩ~30KΩ的測(cè)量范圍。電阻值以5位顯示，具有 30000 讀數(shù)，適用于繼電器接觸電阻、接插件接插電阻、導(dǎo)線電阻、印制板線路及焊孔電阻等；AT516L標(biāo)配RS232通訊接口，支持SC...

• AT516直流電阻測(cè)試儀
• AT516 直流電阻測(cè)試儀，采用高性能 ARM 微處理器控制的全自動(dòng)實(shí)時(shí)檢測(cè)的微型臺(tái)式儀器。儀器具有 0.05%的準(zhǔn)確度和 1μΩ~20MΩ的測(cè)量范圍。電阻值以 5 位顯示，具有 30000 讀數(shù)，采樣速度為 7ms。儀器內(nèi)置溫度補(bǔ)償接口，用來補(bǔ)償因?yàn)闇囟人鸬恼`差。

• AT512精密直流電阻測(cè)試儀
• AT512 是一種高精度寬量程、采用高性能微處理器控制的電阻測(cè)試儀。它可以量測(cè) 0.1μ?～1G?的電阻，顯示位數(shù) 105,000 數(shù)。測(cè)試速度可達(dá) 167 次/秒，基本準(zhǔn)確度可達(dá) 0.01％。它的寬范圍 測(cè)試可以適應(yīng)不同要求的測(cè)試。

• AT510L直流低電阻測(cè)試儀
• AT510L是一種采用高性能微處理器控制的電阻測(cè)試儀。可以測(cè)試1μΩ～30KΩ的電阻，顯示位數(shù)30,000數(shù)。經(jīng)濟(jì)型，針對(duì)低電阻的電阻測(cè)試儀。為消除溫度對(duì)電阻值的影響，可選配溫度補(bǔ)償功能。 應(yīng)用于自動(dòng)化設(shè)備，選配RS232C通訊接口或者HANDLER接口輸出OK/NG信號(hào)，以提高生產(chǎn)...

• AT510直流電阻測(cè)試儀
• AT510是一種高精度寬量程、采用高性能微處理器控制的電阻測(cè)試儀?？梢詼y(cè)試1μΩ～3MΩ的電阻，顯示30,000數(shù)。測(cè)試速度高達(dá)60次/秒，測(cè)試速度在15次/秒下，依然可以保證0.05%的準(zhǔn)確度，并且讀數(shù)跳動(dòng)可控制在3字以下。標(biāo)配溫度補(bǔ)償功能，可對(duì)米電阻進(jìn)行**測(cè)試。可選耳機(jī)訊...

• AT2511直流低電阻測(cè)試儀
• AT2511是一種經(jīng)濟(jì)實(shí)用型的直流低電阻測(cè)試儀，是AT511A的升級(jí)版本。 AT2511相對(duì)于前代產(chǎn)品AT511A，具有更廣的測(cè)試范圍：0.01mΩ～200.0kΩ，顯示位數(shù)5000數(shù) 。同時(shí)提升了測(cè)試速度：10次/秒且讀數(shù)穩(wěn)定。改良的全自動(dòng)量程測(cè)試電路，全電子開關(guān)的設(shè)計(jì)，可瞬間完成從高量程到...

• AT515直流低電阻測(cè)試儀
• AT515 是國(guó)內(nèi)首款用于測(cè)試超低或低并聯(lián)電阻的精密直流電阻測(cè)試儀，采用高性能 ARM 微處理器控制的微型臺(tái)式儀器。儀器具有 0.02%的準(zhǔn)確度和0.1μΩ分辨率，0.1μΩ~1.2GΩ的測(cè)量范圍。優(yōu)越的反復(fù)測(cè)量精度；突破型技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)電阻值以 6.5 位顯示，具有 1,200,000 讀數(shù)，...

• 美瑞克精密電阻測(cè)試儀
• 測(cè)量范圍：10 UΩ- 200 KΩ 電阻量程：基本精度0.05% *大測(cè)試電流：500 mA

• AT51X8多路電阻測(cè)試儀
• AT51X8是全新設(shè)計(jì)的高精度寬量程、并行測(cè)量的多路電阻測(cè)試儀，可以對(duì)8路電阻進(jìn)行同時(shí)測(cè)試。 采用高性能ARM微處理器控制。真彩3.5吋液晶可同時(shí)顯示8路電阻值，并且每個(gè)通道可以單獨(dú)設(shè)置比較器。

• AT5130多路電阻測(cè)試儀
• AT5130是全新設(shè)計(jì)的高精度寬量程、多路電阻測(cè)試儀，可以對(duì)30路電阻進(jìn)行掃描測(cè)試。采用高性能ARM微處理器控制。真彩3.5吋液晶可同時(shí)顯示30路電阻值，并且每個(gè)通道可以單獨(dú)設(shè)置比較器，AT5130可以測(cè)試1μΩ～30KΩ的電阻，顯示位數(shù)30,000數(shù)。

• AT5120多路電阻測(cè)試儀
• AT5120是全新設(shè)計(jì)的高精度寬量程、多路電阻測(cè)試儀，可以對(duì)20路電阻進(jìn)行掃描測(cè)試。采用高性能ARM微處理器控制。真彩3.5吋液晶可同時(shí)顯示20路電阻值，并且每個(gè)通道可以單獨(dú)設(shè)置比較器，AT5120可以測(cè)試1μΩ～30kΩ的電阻，顯示位數(shù)30,000數(shù)。

• AT5110多路電阻測(cè)試儀
• AT5110是全新設(shè)計(jì)的高精度寬量程、多路電阻測(cè)試儀，可以對(duì)10路電阻進(jìn)行掃描測(cè)試。采用高性能ARM微處理器控制。真彩3.5吋液晶可同時(shí)顯示10路電阻值，并且每個(gè)通道可以單獨(dú)設(shè)置比較器，AT5110可以測(cè)試1μΩ～30KΩ的電阻，顯示位數(shù)30,000數(shù)。同時(shí)還具有標(biāo)配的溫度補(bǔ)償功能...

• AT5108多路電阻測(cè)試儀
• AT5108可以測(cè)試1μΩ～30KΩ的電阻，顯示位數(shù)30,000數(shù)。同時(shí)還具有標(biāo)配的溫度補(bǔ)償功能可以適應(yīng)不同要求的測(cè)試。應(yīng)用于自動(dòng)化設(shè)備，加入了HANDLER接口（PLC接口)輸出GD/NG信號(hào)和RS-232C接口，支持SCPI協(xié)議和Modbus協(xié)議

• AT518L手持直流低電阻測(cè)試儀
• AT518L手持直流低電阻測(cè)試儀是一種高精度寬量程，采用高性能32位ARM微處理器控制的便攜手持儀器，內(nèi)置大容量鋰電池在任何場(chǎng)合可長(zhǎng)時(shí)間實(shí)現(xiàn)對(duì)無源元件進(jìn)行**而便捷的測(cè)量 。AT518L配置3.5"高清液晶顯示屏，大字體顯示更方便您讀取數(shù)據(jù)。 儀器可以測(cè)試10μΩ～200KΩ的電阻...