AT5330多路電池內(nèi)阻測(cè)試儀
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介：AT5330多路電池測(cè)試儀,采用高性能32位ARM微處理器控制的全自動(dòng)實(shí)時(shí)檢測(cè)的微型臺(tái)式儀器。可對(duì)30通道電池內(nèi)阻和電壓進(jìn)行掃描測(cè)試。儀器可以測(cè)試0.001mΩ~3k的電阻,0.0001V~60.000V的直流電壓,電阻30000顯示位數(shù),電壓60000顯示位數(shù)。
儀器可以對(duì)30路不同電池的電阻進(jìn)行混合測(cè)試,每通道都有獨(dú)立的比較器設(shè)置,并且30通道比較器結(jié)果都可以分時(shí)通過(guò) Handler接口輸出。儀器標(biāo)配RS-232接口,RS-485接口,USB通訊接口和 Handler接口