阻抗分析儀和LCR表是非常通用的測(cè)量器件的電子儀器。根據(jù)阻抗范圍和頻率范圍的不同，有一系列不同原理的儀器來(lái)滿(mǎn)足測(cè)試要求，圖1是不同阻抗范圍和不同頻率范圍的阻抗測(cè)量方法。
通常，在低頻(《100KHz)的LCR表里，使用一個(gè)簡(jiǎn)單的運(yùn)算放大器作為I-V轉(zhuǎn)換器，缺點(diǎn)是運(yùn)算放大器的頻響在高頻段較差。對(duì)于頻率高于1MHz的LCR表或阻抗分析儀，I-V轉(zhuǎn)換器由精密的零位檢測(cè)器，相位檢測(cè)器和積分器(環(huán)路濾波)組成。這種儀器可以測(cè)量高達(dá)110MHz的頻率范圍。
RF I-V法是I-V技術(shù)在高頻范圍的擴(kuò)展，可以緊密測(cè)量高達(dá)3GHz頻率范圍的阻抗值。RF I-V電路和路徑必須仔細(xì)設(shè)計(jì)，以確保能夠以50ohm阻抗與被測(cè)件DUT相連。如果連接路徑的阻抗不是50ohm，不想要的反射將發(fā)生，將導(dǎo)致電流和電壓的測(cè)量誤差增大。RF I-V法細(xì)分為高阻和低阻兩種測(cè)量模式。實(shí)際上，測(cè)量?jī)x器保持不變，只是改變測(cè)試頭，達(dá)到兩種測(cè)量模式的要求。高阻測(cè)量模式，測(cè)試電流很小，為了正確的探測(cè)電流，電流探頭要盡量靠近DUT;低阻測(cè)量模式，為了靈敏的得到電壓值，電壓探頭要盡量靠近DUT。
網(wǎng)絡(luò)反射法即是網(wǎng)絡(luò)分析儀方法，在此不著介紹。
各種方法的優(yōu)缺點(diǎn)如下。
1、自動(dòng)平衡電橋法優(yōu)缺點(diǎn)：
1)準(zhǔn)確，基本測(cè)試精度0.05%;
2)寬的阻抗測(cè)量范圍：C，L，D，Q，R，X，G，B，Z，Y，O.。.;
3)寬的電學(xué)測(cè)量條件范圍;
4)簡(jiǎn)單易用;
5)低頻：f《110MHz。
2、RF I-V法優(yōu)缺點(diǎn)：
1)寬的頻率范圍：1MHz
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